РАГС - РОССИЙСКИЙ АРХИВ ГОСУДАРСТВЕННЫХ СТАНДАРТОВ,
а также строительных норм и правил (СНиП)
и образцов юридических документов







ГОСТ 8.593-2009

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки

Обозначение:ГОСТ 8.593-2009
Статус:действующий
Тип:ГОСТ
Название русское:Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки
Название английское:State system for ensuring the uniformity of measurements. Atomic-force scanning probe microscopes. Method for verification
Дата актуализации текста:01.01.2021
Дата актуализации описания:01.07.2023
Дата регистрации:11.11.2009
Дата издания:09.12.2019
Дата введения в действие:01.11.2010
Область и условия применения:Настоящий стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус шесть) м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ 8.591 и ГОСТ 8.592
Расположен в:
ГОСТ 8.593-2009. Страница 1
ГОСТ 8.593-2009. Страница 2
ГОСТ 8.593-2009. Страница 3
ГОСТ 8.593-2009. Страница 4
ГОСТ 8.593-2009. Страница 5
ГОСТ 8.593-2009. Страница 6
ГОСТ 8.593-2009. Страница 7
ГОСТ 8.593-2009. Страница 8
ГОСТ 8.593-2009. Страница 9
ГОСТ 8.593-2009. Страница 10
ГОСТ 8.593-2009. Страница 11

Вернуться в "Каталог государственных стандартов" (ГОСТ)