РАГС - РОССИЙСКИЙ АРХИВ ГОСУДАРСТВЕННЫХ СТАНДАРТОВ, а также строительных норм и правил (СНиП)
и образцов юридических документов
Произвольная ссылка:
ГОСТ Р 57394-2017
Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность
Обозначение:
ГОСТ Р 57394-2017
Статус:
действующий
Тип:
ГОСТ Р
Название русское:
Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность
Название английское:
Integrated circuits and semiconductor devices. Methods of accelerated tests for non-failure operation
Дата актуализации текста:
05.05.2017
Дата актуализации описания:
01.07.2023
Дата регистрации:
00.00.0000
Дата издания:
17.04.2017
Дата введения в действие:
01.01.2018
Область и условия применения:
Настоящий стандарт устанавливает методы ускоренных испытаний на безотказность полупроводниковых интегральных микросхем и полупроводниковых приборов (далее - изделий), предусматривающие форсирование режимов эксплуатации