РАГС - РОССИЙСКИЙ АРХИВ ГОСУДАРСТВЕННЫХ СТАНДАРТОВ,
а также строительных норм и правил (СНиП)
и образцов юридических документов







ГОСТ 19834.4-79

Диоды полупроводниковые излучающие инфракрасные. Методы измерения мощности излучения

Обозначение:ГОСТ 19834.4-79
Статус:действующий
Тип:ГОСТ
Название русское:Диоды полупроводниковые излучающие инфракрасные. Методы измерения мощности излучения
Название английское:Semiconductor radiating infra-red diodes. Methods of measurement of radiation power
Дата актуализации текста:06.04.2015
Дата актуализации описания:01.07.2023
Дата регистрации:00.00.0000
Дата издания:01.04.2000
Дата введения в действие:01.07.1981
Область и условия применения:Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые инфракрасные излучающие диоды некогерентного излучения и устанавливает методы измерения мощности излучения от 1 до 5 Вт в диапазоне длин волн 0,7-2,0 мкм: метод непосредственной оценки и метод замещения
Список изменений:№1 от (рег. ) «Срок действия продлен»
№2 от (рег. ) «Поправка»
Расположен в:
Приложение №0:Изменение №1 к ГОСТ 19834.4-79
Приложение №1:Изменение №2 к ГОСТ 19834.4-79
ГОСТ 19834.4-79. Страница 1
ГОСТ 19834.4-79. Страница 2
ГОСТ 19834.4-79. Страница 3
ГОСТ 19834.4-79. Страница 4
ГОСТ 19834.4-79. Страница 5
ГОСТ 19834.4-79. Страница 6
ГОСТ 19834.4-79. Страница 7

Приложения к ГОСТу

Изменение №1 к ГОСТ 19834.4-79

Обозначение:Изменение №1 к ГОСТ 19834.4-79
Дата введения в действие:01.07.1984
Текст поправки интегрирован в текст или описание стандарта.

Изменение №2 к ГОСТ 19834.4-79

Обозначение:Изменение №2 к ГОСТ 19834.4-79
Дата введения в действие:01.01.1987
Текст поправки интегрирован в текст или описание стандарта.

Вернуться в "Каталог государственных стандартов" (ГОСТ)