РАГС - РОССИЙСКИЙ АРХИВ ГОСУДАРСТВЕННЫХ СТАНДАРТОВ,
а также строительных норм и правил (СНиП)
и образцов юридических документов







ГОСТ Р 8.697-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа

Обозначение:ГОСТ Р 8.697-2010
Статус:действующий
Тип:ГОСТ Р
Название русское:Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа
Название английское:State system for ensuring the uniformity of measurements. Interpenar spacings in crystals. Method for measurement by means of a transmission electron microscope
Дата актуализации текста:01.01.2021
Дата актуализации описания:01.07.2023
Дата регистрации:00.00.0000
Дата издания:01.04.2019
Дата введения в действие:01.09.2010
Область и условия применения:Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и иных образцах толщиной не более 200 нм с помощью просвечивающего электронного микроскопа. Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 10,00 нм в режиме дифракции и в диапазоне линейных размеров от 0,2 до 10,0 нм в режиме изображения
Расположен в:
ГОСТ Р 8.697-2010. Страница 1
ГОСТ Р 8.697-2010. Страница 2
ГОСТ Р 8.697-2010. Страница 3
ГОСТ Р 8.697-2010. Страница 4
ГОСТ Р 8.697-2010. Страница 5
ГОСТ Р 8.697-2010. Страница 6
ГОСТ Р 8.697-2010. Страница 7
ГОСТ Р 8.697-2010. Страница 8
ГОСТ Р 8.697-2010. Страница 9
ГОСТ Р 8.697-2010. Страница 10
ГОСТ Р 8.697-2010. Страница 11
ГОСТ Р 8.697-2010. Страница 12
ГОСТ Р 8.697-2010. Страница 13
ГОСТ Р 8.697-2010. Страница 14
ГОСТ Р 8.697-2010. Страница 15

Вернуться в "Каталог государственных стандартов" (ГОСТ)