РАГС - РОССИЙСКИЙ АРХИВ ГОСУДАРСТВЕННЫХ СТАНДАРТОВ, а также строительных норм и правил (СНиП)
и образцов юридических документов







ГОСТ Р 8.700-2010

ГСИ. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа

Статус:действующий (Введен впервые)
Обозначение:ГОСТ Р 8.700-2010
Название русское:ГСИ. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа
Дата актуализации текста:17.06.2011
Дата добавления в базу:17.06.2011
Дата введения:2011-11-01
Разработан в:ОАО "Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума"
МФТИ (ГУ)
ФГУ "Российский научный центр "Курчатовский институт"
ГУ РАН "Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова"
Утверждён в:Ростехрегулирование (05.04.2010)
Опубликован в:Стандартинформ № 2010
Область и условия применения:Настоящий стандарт устанавливает методику измерений эффективной высоты шероховатости изотропных поверхностей твердых тел с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа.
Настоящий стандарт применяют при измерениях эффективной высоты шероховатости поверхностей твердых тел в диапазоне от 10-9 до 10-5 м.
Оглавление:1 Область применения
2 Нормативные ссылки
3 Термины и определения
4 Требования к погрешности измерений
5 Средства измерений и вспомогательные устройства
6 Метод измерений
7 Требования безопасности
8 Требования к квалификации операторов
9 Условия измерений
10 Подготовка и проведение измерений
11 Обработка результатов измерений
12 Контроль погрешности результатов измерений
13 Оформление результатов измерений
Библиография
Ключевые слова:методика измерений поверхность твердые тела эффективная высота шероховатости поверхности сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп
Расположен в:

Открыть документ: «ГСИ. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа» (ГОСТ Р 8.700-2010)

Вернуться в "Каталог СНиП"